Tools
Beide sind bei uns selbst entstanden und laufen vollständig im Browser. Sie zeigen, wie wir arbeiten und woher wir kommen — auch dann, wenn Ihr Arbeitsgebiet ein anderes ist.
Liest Testdaten aus der Halbleiterfertigung und bereitet sie auf: Wafer-Map, Bin- und Yield-Auswertung, parametrische Verteilungen mit Cpk, Auswertung je Prüfplatz, Mehrdateibetrieb. Zweisprachig, mit Fachglossar.
Automatische Testsysteme für den Halbleitertest werden für jedes zu testende Bauteil neu zusammengestellt. Der Assistent klärt Ressourcenbilanz, Ausbaugrenzen, Kanalzuordnung und die daraus folgenden Anforderungen an die Prüfadaption.
Ob ein Werkzeug wie diese bei Ihnen etwas bringt und was dafür nötig wäre, lässt sich in wenigen Sätzen klären. Eine kurze Nachricht genügt.
